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本司仪器的设定方法-深圳市达宏美拓密度测量仪器有限公司

浏览次数:15发布日期:2021-12-23
1、测量介质密度的设定

当测量特殊性产品,如多孔性产品或者粉末,可以使用其它介质当测量溶液,则需修改介质的密度,使测量结果能加以补偿。方法如下:

a)零点状态下,长按【A】键3秒钟以上,显示【c 25】后放手,再按【B】键一次进入R1测量介

质密度的设定。

b)循环按【A】键进行数字修改,按【ZERO】键左右移位。

c)设定好后,按【ENTER】键一次保存设定数据并返回至零点状态下;按【B】键一次进入下一个

设定模式。


2、防水处理介质密度的设定

当测量特殊性产品,除了采用更换测量介质外,还可以使用饱和法或者表面覆盖法进行测量,但必须设定饱和介质与表面覆盖介质的密度,用以计算防水处理后所产生的体积。当非常特殊的样品时,也可以与更换测量介质法同时使用,设定如下:

a)零点状态下,长按【A】键3秒钟以上,显示【c 25】后放手,按【B】键二次选择至R2防水处理介质密度的设定。

b)循环按【A】键进行数字修改,按【ZERO】键左右移位。

c)设定好后,按【ENTER】键一次保存返回至零点状态下;按【B】键一次进入下一个设定模式。


3、上、下限警示的设定

通过HO上限、LO下限的设定,即可自动判定待测物合格与否,并提示报警,步骤如下:

a)零点状态下,长按【A】键3秒钟以上,显示【c 25】后放手, 在不同的测量模式下,需循环按【B】键选择至LO~HI。

b)循环按【A】键进行数字修改,按【ZERO】键左右移位。

c)设定好后,按【ENTER】键一次保存设定数据并返回至零点状态下;按【B】键一次进入下一个设定模式。

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